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第三代
半导体测试家族
Third generation semiconductor testing family
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分类
QT-3101 UIL 雪崩测试

QT-3101 UIL 雪崩测试适用于测试 MOSFET、IGBT、二极管的雪崩参数



支持双DIE

快速充电

失效波形保存

钳压功能

型号 QT-3101 UIL
产品优势 ? 支持 VDD ON(E=1/2L*I*I*BVDSS/(BVDSS-VDD))或VDD OFF(E=1/2*L*I*I) 测试
? 可与 QT-4100B 共用一台电脑，实现测试程序和数据统一管理
? 可设定单脉冲、多脉冲或者双 MOSFET 测试
? 输出电流IDMAX 实时测量监控和Energy读取
? 电感内阻低，ID充电快，测试时间更短
? 内置示波器
主要特点 ? 输出测量能力：最大测量 BVdss:±3000V 最大输出 ID:±150V 、±200A
? 可编辑 VG MAX:±30V脉宽调节（分辨率：1us）
? 可编程电感箱负载 10μH-159.9mH 步进 10μH
? 可编程分选机接口信号 24 个




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